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半導體電子行業(yè)


紅外測溫廣泛應用于半導體電子行業(yè),和傳統(tǒng)的熱電偶等接觸式測溫儀相比,紅外測溫具有響應時間快、屬于非接觸無損檢測(不會對被測目標表面產生任何影響)、能夠測量從點到面的溫度及熱分布、適用不斷移動的物體、使用安全且工作壽命長等優(yōu)點。

紅外測溫儀在半導體電子行業(yè)例如精密集成電路檢測、晶圓CMP工藝、晶硅原料生產、芯片設計研發(fā)制造等眾多領域得到普遍使用和高度認可。

近年來, 半導體電子行業(yè)已成為國家大力扶持、巨額投入的核心基礎產業(yè),深圳歐普士紅外測溫產品持久助力半導體行業(yè)的蓬勃發(fā)展。

成功案例一

2021年8月 安徽某著名高校-精密集成電路板檢測


客戶收益:

使用深圳歐普士高清顯微紅外熱像儀, 清晰顯示電路板的溫度分布、快速發(fā)現(xiàn)并準確定位熱缺陷,顯著提高在PCBA布局優(yōu)化、散熱效果分析、電路能耗設計等方面的效能。


客戶需求:

檢測最小0.5mmx0.5mm電路板元器件,清晰呈現(xiàn)表面溫度分布熱圖并排查熱缺陷故障位置。



半導體電子行業(yè)-成功案例1-現(xiàn)場圖.jpg


解決方案:

選用深圳歐普士高清顯微熱像儀,最小分辨率28um, 標配安裝支架調節(jié)機構。“看見并看清”熱分布,非接觸檢測方式,不會對貴重的精密集成電路產生任何細微損傷。

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成功案例二

2022年1月 浙江某半導體電子設備制造公司


客戶收益:
通過采用深圳歐普士紅外測溫儀和熱像儀,實時精準監(jiān)測CMP過程中的拋光膠體溫度及熱均衡分布狀況,確保全制程始終處于最佳的工藝要求,達到最理想的晶圓平坦化拋光效果。


客戶需求:

化學機械拋光(CMP)是半導體集成電路制造過程中實現(xiàn)晶圓表面平坦化的關鍵工藝,需要在此過程中實時精準檢測點膠溫度以及晶圓表面的熱均勻性。


半導體電子行業(yè)-成功案例2-現(xiàn)場圖片.png


解決方案:
深圳歐普士提供的緊湊型測溫儀和熱像儀,非常適合集成于CMP設備系統(tǒng)模組,實時輸出反饋信號到系統(tǒng)主機進行聯(lián)動操作。

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